ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies

دانلود کتاب تصویربرداری نوری و اندازه گیری: فن آوری های پیشرفته

Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies

مشخصات کتاب

Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies

ویرایش:  
 
سری:  
ISBN (شابک) : 9783527410644, 9783527648443 
ناشر:  
سال نشر: 2012 
تعداد صفحات: 493 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 7 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 43,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 10


در صورت تبدیل فایل کتاب Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تصویربرداری نوری و اندازه گیری: فن آوری های پیشرفته نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تصویربرداری نوری و اندازه گیری: فن آوری های پیشرفته

مروری جامع از وضعیت هنر و پیشرفت‌ها در این زمینه، در حالی که پتانسیل‌های آینده و روندهای توسعه تصویربرداری نوری و مترولوژی نوری، منطقه‌ای با رشد سریع با کاربردهای متعدد در نانوتکنولوژی و نانوفیزیک را نشان می‌دهد. این کتاب که توسط متخصصان برجسته جهان در این زمینه نوشته شده است، شکاف موجود در ادبیات کنونی را با پل زدن زمینه‌های تصویربرداری نوری و اندازه‌شناسی پر می‌کند و تنها منبع به‌روز از نظر دانش بنیادی، مفاهیم اولیه، روش‌شناسی، کاربردها است. و روندهای توسعه. محتوا:
فصل 1 تعدیل‌کننده‌های نور فضایی LCOS: روندها و کاربردها (صفحه‌های 1-29): گریگوری لازارف، آندریاس هرمرشمیت، سون کروگر و استفان اوستن
فصل 2 سه بعدی نمایشگر و تصویربرداری: وضعیت و چشم انداز (صفحات 31-56): بیونگو لی و یانگمین کیم
فصل 3 تلویزیون هولوگرافیک: وضعیت و آینده (صفحات 57-94): Malgorzata Kujawinska و Tomasz Kozacki
فصل 4 نمایش هولوگرافی – وضعیت و آینده ( صفحات 95-119): ونتسسلاو ساینوف و النا استویکووا
فصل 5 کامپیوتر غیر منسجم؟ هولوگرافی تولید شده برای تصویربرداری و نمایش رنگی سه بعدی (صفحات 121 تا 134): تویوهیکو یاتاگای و یوسوکه ساندو
فصل 6 رویکردهایی برای غلبه بر مشکل در هولوگرافی دیجیتال غیر منسجم (صفحات 135-161): جوزف روزن، ناتان تی شاکد، باراک کاتز و گری بروکر
فصل 7 مدیریت هولوگرام های دیجیتال و فرآیند بازسازی عددی برای انعطاف پذیری تمرکز (صفحات 163-177): ملانیا پاتورزو و Pietro Ferraro
فصل 8؟ کنترل ذرات سه بعدی توسط موچین های نوری هولوگرافیک (صفحات 179-206): Mike Woerdemann، Christina Alpmann و Cornelia Denz
فصل 9 نقش حفاظت از مالکیت فکری در ایجاد کسب و کار در زمینه نوری 207-223): دکتر نادیا رینگاند
فصل 10 در مورد تفاوت بین تصویربرداری سه بعدی و مترولوژی سه بعدی برای توموگرافی کامپیوتری (صفحات 225-238): دانیل وی؟ و مایکل توتزک
فصل 11 هولوگرافی منسجم: اصل و کاربردها (صفحات 239-253): میتسوئو تاکدا، وی وانگ و دینش ان. نایک
فصل 12 میکروسکوپ نوری کمی در مقیاس نانو: پیشرفت‌ها و مقایسه‌های جدید –282): Bernd Bodermann, Egbert Buhr, Zhi Li and Harald Bosse
مدل فصل 13؟ مترولوژی نوری مبتنی بر (صفحات 283-304): Xavier Colonna de Lega
فصل 14 بازرسی پیشرفته MEMS توسط راه حل های مستقیم و غیر مستقیم (ص. محیط‌ها (صفحات 369–391): جونیور Armando Albertazzi G.
فصل 17 روش‌های پیشرفته برای آزمایش غیرمخرب نوری (صفحات 393–412): Ralf B. Bergmann و Philipp Huke
فصل 18 ارتقاء تداخل هولوگرافیک برای تداخل صنعتی توسط هولوگرافی دیجیتال (صفحات 413-437): Zoltaan Fuzessy، Ferenc Gyimesi و Venczel Borbely


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

A comprehensive review of the state of the art and advances in the field, while also outlining the future potential and development trends of optical imaging and optical metrology, an area of fast growth with numerous applications in nanotechnology and nanophysics. Written by the world's leading experts in the field, it fills the gap in the current literature by bridging the fields of optical imaging and metrology, and is the only up-to-date resource in terms of fundamental knowledge, basic concepts, methodologies, applications, and development trends.Content:
Chapter 1 LCOS Spatial Light Modulators: Trends and Applications (pages 1–29): Grigory Lazarev, Andreas Hermerschmidt, Sven Kruger and Stefan Osten
Chapter 2 Three?Dimensional Display and Imaging: Status and Prospects (pages 31–56): Byoungho Lee and Youngmin Kim
Chapter 3 Holographic Television: Status and Future (pages 57–94): Malgorzata Kujawinska and Tomasz Kozacki
Chapter 4 Display Holography–Status and Future (pages 95–119): Ventseslav Sainov and Elena Stoykova
Chapter 5 Incoherent Computer?Generated Holography for 3D Color Imaging and Display (pages 121–134): Toyohiko Yatagai and Yusuke Sando
Chapter 6 Approaches to Overcome the Resolution Problem in Incoherent Digital Holography (pages 135–161): Joseph Rosen, Natan T. Shaked, Barak Katz and Gary Brooker
Chapter 7 Managing Digital Holograms and the Numerical Reconstruction Process for Focus Flexibility (pages 163–177): Melania Paturzo and Pietro Ferraro
Chapter 8 Three?Dimensional Particle Control by Holographic Optical Tweezers (pages 179–206): Mike Woerdemann, Christina Alpmann and Cornelia Denz
Chapter 9 The Role of Intellectual Property Protection in Creating Business in Optical Metrology (pages 207–223): Dr. Nadya Reingand
Chapter 10 On the Difference between 3D Imaging and 3D Metrology for Computed Tomography (pages 225–238): Daniel Wei? and Michael Totzeck
Chapter 11 Coherence Holography: Principle and Applications (pages 239–253): Mitsuo Takeda, Wei Wang and Dinesh N. Naik
Chapter 12 Quantitative Optical Microscopy at the Nanoscale: New Developments and Comparisons (pages 255–282): Bernd Bodermann, Egbert Buhr, Zhi Li and Harald Bosse
Chapter 13 Model?Based Optical Metrology (pages 283–304): Xavier Colonna de Lega
Chapter 14 Advanced MEMS Inspection by Direct and Indirect Solution Strategies (pages 305–326): Ryszard J. Pryputniewicz
Chapter 15 Different Ways to Overcome the Resolution Problem in Optical Micro and Nano Metrology (pages 327–368): Prof. Dr. Wolfgang Osten
Chapter 16 Interferometry in Harsh Environments (pages 369–391): Jr. Armando Albertazzi G.
Chapter 17 Advanced Methods for Optical Nondestructive Testing (pages 393–412): Ralf B. Bergmann and Philipp Huke
Chapter 18 Upgrading Holographic Interferometry for Industrial Application by Digital Holography (pages 413–437): Zoltaan Fuzessy, Ferenc Gyimesi and Venczel Borbely





نظرات کاربران