مشخصات کتاب

Mechanical stress on the nanoscale : simulation, material systems and characterization techniques

ویرایش:  
نویسندگان: Margrit Hanbücken,  Pierre Müller,  Ralf B Wehrspohn  
سری:  
ISBN (شابک) : 9783527639540, 352763956X 
ناشر: Wiley-VCH 
سال نشر: 2011 
تعداد صفحات: 370 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 42 مگابایت 

در صورت تبدیل فایل کتاب Mechanical stress on the nanoscale : simulation, material systems and characterization techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب استرس مکانیکی در مقیاس نانو: شبیه‌سازی، سیستم‌های مواد و تکنیک‌های مشخصه‌سازی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب استرس مکانیکی در مقیاس نانو: شبیه‌سازی، سیستم‌های مواد و تکنیک‌های مشخصه‌سازی


محتوا: ماده جلویی --
مبانی استرس و فشار در مقیاس نانو. آرامش کرنش الاستیک: ترمودینامیک و سینتیک / فرانک گلاس --
مبانی تنش و کرنش در سطح نانومقیاس: به سوی نانوالاستیسیته / پیر مولر --
شروع پلاستیسیته در نانومواد کریستالی / لورن پیزاگالی، ساندرین جولین گود --
آرامش در مقیاس نانو: نمای اتمی با شبیه سازی عددی / کریستین موتت --
سیستم های مدل با ویژگی های مهندسی شده استرس. انطباق نا مناسب شبکه در نانوسیم‌های ناهم‌رسانا نیمه‌رسانا / Volker Schmidt, Joerg V Wittemann --
نانودستگاه‌های سیلیکونی فشاری / Manfred Reiche, Oussama Moutanabbir, Jan Hoentschel, Angelika H̃hnel, Stefan Flachowst, Ulfrehman Flachowst > الگوهای نانو استرس محور در سیستم های فلزی / وینسنت ریپین، سیلوی روست، شوبانا نراسیمهان --
الگوهای نیمه هادی برای ساخت اشیاء نانو / جول ایمری، لارنس ماسون، هودا سحاف، مارگریت هانبوک --
تکنیک‌های مشخص‌سازی تنش‌ها در مقیاس نانو. تجزیه و تحلیل کرنش در میکروسکوپ الکترونی عبوری: تا کجا می توانیم پیش برویم؟ / Anne Ponchet, Christophe Gatel, Christian Roucau, Marie-Još Casanove --
تعیین کرنش های الاستیک با استفاده از پراش الکترونی پس پراکندگی در میکروسکوپ الکترونی روبشی / Michael Krause, Matthias Petzold, Ralf B Wehrspohn --
X -تجزیه و تحلیل پراش پرتو کرنش های الاستیک در مقیاس نانو / اولیویه توماس، اودیل روباخ، سوفانی اسکوباس، ژان-شباستیان میشا، نیکلاس واکسلر، اولیویه پرو --
پراکندگی پرتو ایکس پراکنده در ساختارهای با ابعاد پایین در ساختار سیستم /Si / مایکل هانکه --
اندازه‌گیری مستقیم حالت‌های جابجایی الاستیک به وسیله پراش پرتو ایکس با وقوع چرای / Geoffroy Přvot --
مقیاس زیر میکرومتری سیلیکون خورشیدی توسط طیف‌سنجی رامان / مایکل بکر، جورج ساراو، سیلک کریستینسن --
اپتیک غیرخطی ناشی از کرنش در سیلیکون / کلمنس شریور، کریستین بوهلی، رالف بی ورسپون --
شاخص.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Content: Front Matter --
Fundamentals of Stress and Strain on the Nanoscale. Elastic Strain Relaxation: Thermodynamics and Kinetics / Frank Glas --
Fundamentals of Stress and Strain at the Nanoscale Level: Toward Nanoelasticity / Pierre Muller --
Onset of Plasticity in Crystalline Nanomaterials / Laurent Pizzagalli, Sandrine Brochard, Julien Godet --
Relaxations on the Nanoscale: An Atomistic View by Numerical Simulations / Christine Mottet --
Model Systems with Stress-Engineered Properties. Accommodation of Lattice Misfit in Semiconductor Heterostructure Nanowires / Volker Schmidt, Joerg V Wittemann --
Strained Silicon Nanodevices / Manfred Reiche, Oussama Moutanabbir, Jan Hoentschel, Angelika H̃hnel, Stefan Flachowsky, Ulrich G̲sele, Manfred Horstmann --
Stress-Driven Nanopatterning in Metallic Systems / Vincent Repain, Sylvie Rousset, Shobhana Narasimhan --
Semiconductor Templates for the Fabrication of Nano-Objects / Jo︠l Eymery, Laurence Masson, Houda Sahaf, Margrit Hanbucken --
Characterization Techniques of Measuring Stresses on the Nanoscale. Strain Analysis in Transmission Electron Microscopy: How Far can we go? / Anne Ponchet, Christophe Gatel, Christian Roucau, Marie-Još Casanove --
Determination of Elastic Strains Using Electron Backscatter Diffraction in the Scanning Electron Microscope / Michael Krause, Matthias Petzold, Ralf B Wehrspohn --
X-Ray Diffraction Analysis of Elastic Strains at the Nanoscale / Olivier Thomas, Odile Robach, Sťphanie Escoubas, Jean-Šbastien Micha, Nicolas Vaxelaire, Olivier Perroud --
Diffuse X-Ray Scattering at Low-Dimensional Structures in the System SiGe/Si / Michael Hanke --
Direct Measurement of Elastic Displacement Modes by Grazing Incidence X-Ray Diffraction / Geoffroy Přvot --
Submicrometer-Scale Characterization of Solar Silicon by Raman Spectroscopy / Michael Becker, George Sarau, Silke Christiansen --
Strain-Induced Nonlinear Optics in Silicon / Clemens Schriever, Christian Bohley, Ralf B Wehrspohn --
Index.

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب The Stochastic Growth Model

دانلود کتاب Lipidomics: Comprehensive Mass Spectrometry of Lipids

دانلود کتاب Caring on the Frontline during COVID-19: Contributions from Rapid Qualitative Research

دانلود کتاب Тенденції, особливості та проблеми розвитку малих підприємств роздрібної торгівлі України

دانلود کتاب Drawing the Line - What to Do with the Work of Immoral Artists from Museums to the Movies