دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Yuehua Yuan, T. Randall Lee (auth.), Gianangelo Bracco, Bodil Holst (eds.) سری: Springer Series in Surface Sciences 51 ISBN (شابک) : 9783642342424, 9783642342431 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 2013 تعداد صفحات: 666 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 25 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تکنیک های علوم سطحی: علوم سطح و رابط، لایههای نازک، علم اندازهگیری و ابزار دقیق، نانوتکنولوژی، اپتیک، الکترونیک نوری، پلاسمونیک و دستگاههای نوری، شتاب و تشخیص ذرات، فیزیک پرتو، علم و فناوری در مقیاس نانو
در صورت تبدیل فایل کتاب Surface Science Techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تکنیک های علوم سطحی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب تکنیکهای تجربی مورد استفاده برای مطالعه سطوح و رابطها را شرح میدهد. تاکید بر روش تجربی است. بنابراین، تمام فصلها با مقدمهای از مسئله علمی، تئوری لازم برای درک چگونگی عملکرد تکنیک و چگونگی درک نتایج شروع میشوند. توضیحاتی در مورد تنظیمات آزمایشی واقعی، نتایج آزمایشی در سیستمهای مختلف ارائه شده است تا هم قدرت و هم محدودیتهای تکنیک را نشان دهد. در بخش پایانی پیشرفتهای جدید و توسعههای احتمالی تکنیکها ارائه میشود. تکنیک های ارائه شده اطلاعات میکروسکوپی و همچنین ماکروسکوپی را ارائه می دهند. آنها بیشتر تکنیک های مورد استفاده در علوم سطح را پوشش می دهند.
The book describes the experimental techniques employed to study surfaces and interfaces. The emphasis is on the experimental method. Therefore all chapters start with an introduction of the scientific problem, the theory necessary to understand how the technique works and how to understand the results. Descriptions of real experimental setups, experimental results at different systems are given to show both the strength and the limits of the technique. In a final part the new developments and possible extensions of the techniques are presented. The included techniques provide microscopic as well as macroscopic information. They cover most of the techniques used in surface science.
Front Matter....Pages I-XXIII
Front Matter....Pages 1-1
Contact Angle and Wetting Properties....Pages 3-34
Adsorption Calorimetry on Well-Defined Surfaces....Pages 35-55
Front Matter....Pages 57-57
Methods of IR Spectroscopy for Surfaces and Thin Films....Pages 59-98
A Surface Scientist’s View on Spectroscopic Ellipsometry....Pages 99-135
Nonlinear Vibrational Spectroscopy....Pages 137-161
Front Matter....Pages 163-163
Grazing Incidence X-Ray Diffraction....Pages 165-190
X-Ray Reflectivity....Pages 191-216
Resonant Photoelectron Diffraction....Pages 217-247
Surface Structure Analysis with X-Ray Standing Waves....Pages 249-275
Advanced Applications of NEXAFS Spectroscopy for Functionalized Surfaces....Pages 277-303
Front Matter....Pages 305-305
Neutron Reflectivity....Pages 307-332
Probing Surfaces with Thermal He Atoms: Scattering and Microscopy with a Soft Touch....Pages 333-365
The Helium Spin-Echo Method....Pages 367-396
Diffraction of H 2 from Metal Surfaces....Pages 397-420
Front Matter....Pages 421-421
Low Energy Ion Scattering and Recoiling Spectroscopy in Surface Science....Pages 423-460
Helium Ion Microscopy....Pages 461-497
High Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy (HREELS): A Sensitive and Versatile Surface Tool....Pages 499-529
Low-Energy Electron Microscopy....Pages 531-561
Front Matter....Pages 563-563
Scanning Tunneling Microscopy....Pages 565-597
Surface Characterization Using Atomic Force Microscopy (AFM) in Liquid Environments....Pages 599-620
Front Matter....Pages 563-563
Atomic Force Microscopy for Surface Imaging and Characterization of Supported Nanostructures....Pages 621-653
Back Matter....Pages 655-663